Memory Test

에이티세미콘은 SRAM, FLASH Memory, DRAM, PSEUDO SRAM, Embedded Memory, Mask ROM등 다양한 종류의 Memory Device의 Probe & Final Test를 진행하고 있으며 TSOP, FBGA, uBGA, SOP PLCC, QFP등 다양한 종류의 Package Type을 Test 할 수 있는 Capacity를 보유하고 있습니다. 여기에 더불어 세계최고의 Engineering Capacity는 귀사제품의 Design단계부터 Probe & Final Test에 필요한 Program development를 포함하여 각종 Hardware(Probe Card, Socket, Change over Kit, Hifix Board)개발을 지원합니다.

System IC Test

Logic Test는 Digital이론을 기본으로 하여 적용한 Test로서 MPU, ASI, FBGA, PLD등이 포함되며 Mixed Signal Device는 Digital회로에 Analog 기능이 포함된 Device를 의미하며 에이티세미콘은 이러한 Package Type을 Test할 수 있는 Capacity를 보유하고 있습니다. 에이티세미콘은 Wafer Test부터 Final Test까지 필요한 모든 것 즉 Test Program, Probe Card, Load Board를 포함한 모든 Software & Hardware를 가장 경쟁력 있는 비용과 On-time Service를 제공합니다.

CIS Test

에이티세미콘은 최근 각광받고 있는 Mobile Phone의 핵심 Device인 CMOS Image Sensor(CIS)의 Wafer Probe & Final Test를 지원하고 있습니다. CIS 테스트 분야는 16para와 32para 테스트가 현재 주류를 이루고 있으며 에이티세미콘은 Teradyne사와 Advantest사의 테스터를 기반으로 최고의 CIS Wafer Test & Final Test 서비스를 제공하고 있습니다.