Test

에이티세미콘은 모든 반도체 제품에 대해서 Wafer Test와 Final Test 서비스를 제공하고 있으며, 메모리 / 시스템반도체 테스트 등 반도체 전분야를 테스트할 수 있는 인프라를 구축하고 있습니다.

  • Wafer Test

    에이티세미콘은 다양한 Wafer Test Service를 제공하고 있습니다.
    Wafer Test Service는 물론 Test Program개발, 특성검사, Laser Repair, Automatic visual lns- pection, Wafer Level Burn in 등 Wafer 관련 모든 Test Service를 제공합니다.
    Wafer 테스트 온도는 -55℃ ~ 150℃ 의 범위에서 이루어지며, 테스트 가능한 사이즈는 5인치부터 12인치까지 현존하는 모든 사이즈의 웨이퍼를 테스트 할 수 있습니다.

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  • Final Test

    다양한 Package Test Service를 제공하고 있습니다. 기본적인 전기적 특성검사부터 고객제품 특성에 맞는 테스트 프로그램 개발 및 인터페이스 제작을 제공하고 있습니다.
    또한 SOP, TSOP, TSOP2, SSOP, QFP, QFL, LQFP, TQP, QFN, BGA, FBGA, LGA, SIP, Flip chip F- BGA 및 MCP( Memory+Memory / Memory+System IC / System IC + System IC ) 등 다양한 Package 타입의 Device의 테스트가 가능합니다.
    테스트 온도는 -55℃ ~ 150℃ 에서 수행가능하며, 메모리반도체의 경우 32Para부터 1024Para까지, 시스템반도체의 경우 1Para부터 16Para까지 테스트 가능합니다.

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  • Back-end Services

    테스트 완료된 제품에 대하여 고객의 요청에 따라 Laser Marking, Visual Inspection, Bake 등 반도체 테스트와 관련된 다양한 Back-end 서비스와 Packing(Tape & Reel 또는 Tray)부터 배송까지의 편리한 Dropship 서비스를 제공합니다.